изучение волноводно-оптического метода измерения показателя преломления и толщины планарных оптических волноводов (световодов);

Цель работы

1) изучение волноводно-оптического метода измерения показателя преломления и толщины планарных оптических волноводов (световодов);

2) приобретение навыков угловых измерений с помощью гониометра-спектрометра;

3) измерение показателя преломления и толщины планарного световода на основе поверхностного кристаллического слоя твердого раствора HxLi1-xNbO3  на подложке LiNbO3  и определение в нем концентрации протонов.

 

Приборы и принадлежности

 Гелий-неоновый лазер ЛГН, призма связи, гониометр ГС-5, планарный оптический волновод

           

1. Метод волноводно-оптических измерений

Одним из основных элементов современных оптических и оптоэлектронных устройств и схем является оптический волновод (световод). Развитие технологии получения составляющих основу современной оптоэлектроники тонких пленочных (планарных) световодов обуславливает необходимость разработки, дальнейшего развития и изучения методов исследования важнейших параметров планарных световодов. Важными характеристиками тонких пленок и слоев, в том числе и планарных световодов,  являются их толщина и показатель преломления. Традиционным методом измерения этих величин является метод эллипсометрии. Однако этот метод достаточно трудоемок и в ряде случаев не обеспечивает необходимой точности измерений. Существенно более точным и простым является метод, основанный на явлении волноводного распространения света по поверхностным слоям.

Ссылка на основную публикацию
Adblock detector