Растровый электронный микроскоп МикроСкан МС-20

В современных исследовательских и аналитических РЭМ применяется технология фокусированного ионного пучка (ФИП, англ. — FIB). Совмещая возможности РЭМ и ФИП в одной камере, электронно-ионные микроскопы (двухлучевые) предоставляет полный доступ к получению качественно новой информации. В то время как с помощью электронного пучка формируется изображение выбранной области, фокусированный ионный пучок, действуя как микрохирургический инструмент, локально модифицирует объект для углубленного изучения его внутренней структуры. Это дает возможность исследователям не ограничиваться просмотром только поверхности объекта, а наблюдать его трехмерную структуру, осаждать локально тонкие пленки материала на объект исследования, препарировать объекты в заданном участке для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ), а в наиболее современных моделях сканирующих электронных микроскопов объекты могут быть затем просмотрены в нем же в режиме ПЭМ без их переноса в другой электронный микроскоп.

Использование ФИП позволяет проводить изучение и анализ широкого спектра объектов в трех измерениях, включая полупроводники, металлы, сплавы, полимеры, керамики, пластмассы и др. Совмещение техники ФИП с РЭМ в одном приборе расширяет сферу его применения и позволяет получать информацию об объектах, которая ранее была недоступной, за счет их модификации при осаждении или удалении материала.

Манипуляторы высокой точности позиционирования для манипулирования образцами, вырезания ионным пучком участков образцов их поворотов и перемещений, а также для локальных видов обработки и нанесения материалов внутри электронно-ионного микроскопа, склейки.


Растровый электронный микроскоп МикроСкан МС-20

Растровый электронный микроскоп серии МикроСкан МС20 является малогабаритным, полностью компьютеризированным прибором второго поколения и имеет следующие модификации:

Ссылка на основную публикацию
Adblock detector