В представленной работе на первом этапе были исследованы базовый технологический маршрут,

Диссертационная работа Подгурского О.Ю. посвящена актуальным проблемам в области изучения причин брака и их выявления с помощью карт годности на примере микроконтроллера с энергонезависимой памятью. 

В ходе выполнения работы диссертантом был проведен анализ возможностей имеющегося программного пакета MapViewerGr.exe и XReport.exe.

В представленной работе на первом этапе были исследованы базовый технологический маршрут, электрические характеристики и конструктивно технологические особенности микроконтроллера с энергонезависимой памятью.   

На втором этапе работы был проведен анализ нескольких партий микроконтроллера с помощью карт годности. Была выявлена зависимость повторяющегося дефекта от сбоев на этапе фотокопии. В одной  из партий была обнаружена причина низкого выхода годных, и проведен эксперимент по устранению данной причины. Была установлена зависимость между данными функционального контроля и возможными причинами брака.

К недостаткам работы можно отнести следующее:

— Недостаточно полно проведено исследование влияния режима работы КНИ и КНС МОП-транзисторов на частотные свойства приборов

— Для КНС-структур подробно не рассмотрены вопросы влияния дефектов границы раздела сапфир-кремний на характеристки приборов.

Несмотря на отмеченные недостатки, диссертационное исследование выполнено на высоком научно-техническом уровне и заслуживает оценки «отлично», а диссертант Ангел М.Н.– присвоения звания магистра.

 

Ссылка на основную публикацию
Adblock detector